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  • LQ-TS電子高低溫沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS電子高低溫沖擊試驗(yàn)箱

    電子高低溫沖擊試驗(yàn)箱用壓縮機(jī)為主的制冷系統(tǒng)制冷產(chǎn)生低溫(也稱冷溫)及在加熱系統(tǒng)中產(chǎn)生的高溫(也稱熱溫)中兩溫度經(jīng)過控制器操控來回沖擊試驗(yàn)led產(chǎn)品或配件,檢測其所受的在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)極冷溫及極熱溫的連續(xù)循環(huán)環(huán)境下所能承受的物理變化。

    更新時(shí)間:2025-02-26型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS半導(dǎo)體冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS半導(dǎo)體冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱

    半導(dǎo)體冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件,使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖

    更新時(shí)間:2025-02-26型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS可編程小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS可編程小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    可編程小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-01-17型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS可程式冷熱沖擊三箱試驗(yàn)箱
    LQ-TS可程式冷熱沖擊三箱試驗(yàn)箱

    可程式冷熱沖擊三箱試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2025-01-17型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱

    冷熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動(dòng)調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件,使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖

    更新時(shí)間:2024-12-10型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    小型吊藍(lán)式冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-12-10型號(hào):LQ-TS
  • LQ-TS提籃式冷熱沖擊箱
    LQ-TS提籃式冷熱沖擊箱

    提籃式冷熱沖擊箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時(shí)間:2024-12-02型號(hào):LQ-TS
  • 高低溫和冷熱沖擊廠家
    高低溫和冷熱沖擊廠家

    高低溫和冷熱沖擊廠家一種環(huán)境測試方法,?旨在評(píng)估產(chǎn)品在溫度急劇變化的環(huán)境下的適應(yīng)性和可靠性。?主要涉及產(chǎn)品在短時(shí)間內(nèi)經(jīng)歷從高溫到低溫或從低溫到高溫的快速溫度變化,?以檢驗(yàn)產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)和性能是否能夠適應(yīng)這種劇烈的溫度波動(dòng)。?這種測試對(duì)于評(píng)估產(chǎn)品的環(huán)境適應(yīng)性和可靠性至關(guān)重要,?尤其是在航空航天、?電子、?信息等領(lǐng)域的應(yīng)用中。?測試標(biāo)準(zhǔn)包括GB/T 2423.1、?IEC 60068-2-1

    更新時(shí)間:2024-12-02型號(hào):
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